Principe de la shearographie
Appelée aussi interférométrie de speckle à dédoublement latéral, la shearographie utilise une source de lumière cohérente à faisceau large (diode laser et lentille divergente) pour illuminer la surface à étudier.
L'image de la surface est dédoublée dans un biprisme ou dans un interféromètre de Michelson. Les deux images décalées interfèrent et mettent en évidence la rugosité de la surface.
En comparant une image de référence et une image du spécimen "chargé", on mesure le gradient de déformation de la surface.
Le spécimen peut être chargé de différentes façons : par rayonnement thermique, par mise en pression / dépression ou par mise en vibrations.
Tout défaut de l'intégrité du spécimen qui provoque une déformation de la surface lors de l'application de la contrainte sera détectable par comparaison des images successives de cette surface.
Le seuil de détection de déformation est de l'ordre de 30 nanomètres, ce qui permet en pratique la détection de défauts situés à plusieurs millimètres, voire plusieurs centimètres, sous la surface.
Chaque mesure traite plusieurs dmē et le processus peut être automatisé en utilisant un robot pour déplacer la sonde de mesure.